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優(yōu)尼康微課堂:臺(tái)階儀相關(guān)知識(shí)科普
2020-4-27
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臺(tái)階儀相關(guān)知識(shí)科普優(yōu)尼康微課堂:什么是臺(tái)階儀?臺(tái)階儀屬于接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x器,也叫探針式表面輪廓儀。臺(tái)階儀測(cè)量精度較高、量程大、測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定可靠、重復(fù)性好,被廣泛應(yīng)用在各行各業(yè)。測(cè)量原理:當(dāng)觸針沿被測(cè)表面輕輕滑過(guò)時(shí),由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí),還沿峰谷作上下運(yùn)動(dòng)。觸針的運(yùn)動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況。臺(tái)階儀性能優(yōu)劣取決于以下三個(gè)方面:測(cè)試重復(fù)性、測(cè)試速度以及操作難易程度。這些因素決定了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的質(zhì)量和實(shí)驗(yàn)操作的效率。在這以我們優(yōu)尼康提供的一款KLA臺(tái)階儀為例,簡(jiǎn)...
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橢偏儀的應(yīng)用領(lǐng)域和特點(diǎn)
2020-4-26
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橢偏儀是一種用于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。由于測(cè)量精度高,適用于超薄膜,與樣品非接觸,對(duì)樣品沒(méi)有破壞且不需要真空,使得橢偏儀成為一種吸引力的測(cè)量?jī)x器。橢偏儀應(yīng)用領(lǐng)域:半導(dǎo)體、微電子、MEMS、通訊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、光學(xué)鍍膜、平板顯示器、科學(xué)研究、物理、化學(xué)、生物、醫(yī)藥。橢偏儀可測(cè)材料:半導(dǎo)體、介電材料、有機(jī)高分子聚合物、金屬氧化物、金屬鈍化膜、自組裝單分子層、多層膜物質(zhì)和石墨烯等等。橢偏儀構(gòu)造:在橢偏儀的測(cè)量中使用不同的硬件配置,但每種配置都必須能產(chǎn)生已知...
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3D光學(xué)表面輪廓儀的工作原理和應(yīng)用
2020-4-21
4022
3D光學(xué)表面輪廓儀的工作原理和應(yīng)用為什么需要測(cè)量表面形貌?在生產(chǎn)中,微觀上的表面形貌對(duì)工程零件的許多技術(shù)性能的評(píng)價(jià)具有直接的影響,而且表面三維評(píng)定參數(shù)由于能更、更真實(shí)地反映零件表面的特征及衡量表面的質(zhì)量而越來(lái)越受到重視,因此表面三維微觀形貌的測(cè)量就越顯重要。通過(guò)對(duì)三維形貌的測(cè)量可以比較地評(píng)定表面質(zhì)量的優(yōu)劣,進(jìn)而確認(rèn)加工方法的好壞及設(shè)計(jì)要求的合理性,這樣就可以反過(guò)來(lái)通過(guò)指導(dǎo)加工、優(yōu)化加工工藝以加工出高質(zhì)量的表面,確保零件使用功能的實(shí)現(xiàn)。3D光學(xué)表面輪廓儀的測(cè)量原理:光源發(fā)出的光...
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3D光學(xué)輪廓儀的特點(diǎn)以及應(yīng)用
2020-4-13
2019
3D光學(xué)輪廓儀的特點(diǎn)以及應(yīng)用3D光學(xué)輪廓儀常用于測(cè)定樣品中被測(cè)區(qū)域的表面粗糙情況與輪廓形貌。本文以優(yōu)尼康科技有限公司提供的一款3D光學(xué)輪廓儀為例,讓我們來(lái)了解一下吧。產(chǎn)品特點(diǎn):光學(xué)輪廓儀對(duì)各種產(chǎn)品,部件和材料的表面輪廓,粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。應(yīng)用:傳統(tǒng)的機(jī)械零件由于受加工設(shè)備的限制,對(duì)精度包括平面度,粗糙度的要求常規(guī)下停留在微米量級(jí)。但隨著技術(shù)發(fā)展,人們對(duì)機(jī)械零件的加工精...
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光學(xué)膜厚儀的應(yīng)用和原理
2020-4-9
4137
光學(xué)膜厚儀是一種非接觸式測(cè)量?jī)x器,一般會(huì)運(yùn)用在生產(chǎn)廠商生產(chǎn)產(chǎn)品的過(guò)程,由于誤差經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品全部報(bào)廢,這時(shí)候就需要運(yùn)用光學(xué)膜厚儀來(lái)介入到生產(chǎn)環(huán)境,避免這種情況的發(fā)生。典型應(yīng)用領(lǐng)域半導(dǎo)體制造業(yè),光刻膠、氧化物、硅或其他半導(dǎo)體膜層的厚度測(cè)量。生物醫(yī)學(xué)原件:聚合物/聚對(duì)二甲苯;生物膜/球囊壁厚度;植入藥物涂層。微電子:光刻膠;硅膜;氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡液晶顯示器:盒厚;聚酰亞胺;導(dǎo)電透明膜由于是光學(xué)測(cè)量,在測(cè)量時(shí)候無(wú)須擔(dān)心破壞樣品,讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過(guò)對(duì)...
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什么是X射線熒光鍍層測(cè)厚儀?
2020-3-31
2003
X射線熒光(XRF)鍍層測(cè)厚儀是專門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款儀器,優(yōu)尼康科技有限公司提供的一款BowmanBA-100Optics為例,來(lái)簡(jiǎn)單了解下,什么是臺(tái)式X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。BowmanBA-100Optics機(jī)型采用業(yè)界的多孔毛細(xì)管光學(xué)聚焦裝置,有效縮小測(cè)量點(diǎn)斑點(diǎn)的同時(shí),可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強(qiáng)度。BowmanBA-100Optics機(jī)型配備大面積的SDD(硅漂移探測(cè)器),有效拓展元素分析范圍,適應(yīng)嚴(yán)格的微區(qū)、超薄鍍層,以及痕量元素分析需求。良好的測(cè)...