膜厚儀做為一種測(cè)量物體厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是涂層測(cè)厚儀，擁有測(cè)量精度高，利用探頭接觸測(cè)量方式的優(yōu)點(diǎn)。

　　光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。

　　光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x的使用注意事項(xiàng)：

　　1.零點(diǎn)校準(zhǔn)

　　在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn)，因?yàn)橹暗臏y(cè)量參數(shù)會(huì)影響該次對(duì)物體的測(cè)量，零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測(cè)量有參數(shù)的影響，能夠降低測(cè)量的結(jié)果的誤差，使測(cè)量結(jié)果更加。

　　2.基體厚度不宜過薄

　　在使用膜厚儀對(duì)物體進(jìn)行測(cè)量時(shí)基體不宜過薄，否則會(huì)大程度的影響儀器的測(cè)量精度，造成數(shù)據(jù)結(jié)果不，影響測(cè)量過程的正常進(jìn)行。

　　3.物體表面粗糙程度

　　對(duì)于被測(cè)物體的表面不宜太過粗糙，因?yàn)榇植诘谋砻嫒菀滓鹛筋^接觸不到，降低了涂層測(cè)厚儀的測(cè)量精度，造成很大的誤差。所以被測(cè)物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑，以測(cè)量結(jié)果的性。

　　光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x不測(cè)量這樣辦：

　　檢查探頭是否連接良好，插到位 查看探頭插頭插針情況。

　　檢查探頭線是否有斷的地方重點(diǎn)檢查探頭接插件處(接頭處可以旋鈕擰開查看)。

　　探頭頻繁使用，傳感器老化或損壞等。

　　其它主機(jī)線路元件故障咨詢公司售后服務(wù)或返廠檢修。